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Provas MIEMN| Lic. Maria João Marcelo Goulão

Ter, 02/12/2025 - 09:30 - 11:00
Tipo de evento: 
Prova Académica
Organizador: 
DCM | NOVA | FCT
Local do evento: 
Anfiteatro "Leopoldo Guimarães" | CENIMAT
Localização específica: 
Edifício CENIMAT

Título: “Multi-layered semiconductors for improved reliability and performance of amorphous oxide thin-film transistors”

Coorientadora: Mestre Inês Sofia Luís dos Santos, aluna de doutoramento, NOVA University Lisbon.

Júri:

Presidente:

- Doutora Joana Maria Dória Vaz Pinto Morais Sarmento, Professora Auxiliar do Departamento de Ciência dos Materiais da NOVA School of Science and Technology | NOVA FCT
- Doutora Asal Kiazadeh, Professora Auxiliar do Departamento de Ciência dos Materiais da NOVA School of Science and Technology | NOVA FCT
- Doutor Pedro Miguel Cândido Barquinha, Professor Associado do Departamento de Ciência dos Materiais da NOVA School of Science and Technology | NOVA FCT